[No.H001]
3月20日-3月22日,歷時(shí)三天,眾星云集的慕尼黑上海光博會(huì)VisionChina2019在上周五于上海新國際博覽中心圓滿收官,數(shù)優(yōu)人工智能作為工業(yè)領(lǐng)域人工智能缺陷檢測(cè)的領(lǐng)導(dǎo)者,帶著業(yè)界的認(rèn)可、客戶的贊譽(yù)滿載而歸。
1展位號(hào):W5.5216
視覺系統(tǒng)設(shè)計(jì) 媒體采訪中
本次展會(huì)數(shù)優(yōu)人工智能展臺(tái)位于W5館5216,數(shù)優(yōu)人工智能以“專注深度學(xué)習(xí)、深耕工業(yè)檢測(cè)”為主題,帶來了全球領(lǐng)先的深度學(xué)習(xí)缺陷檢測(cè)技術(shù)應(yīng)用和全新的手機(jī)外觀全檢的“人工智能”產(chǎn)品,和觀眾一起探討了工業(yè)檢測(cè)智能制造的無限可能。
2、機(jī)器視覺技術(shù)及工業(yè)應(yīng)用研討會(huì)
中國區(qū)總經(jīng)理韓旭先生演講現(xiàn)場(chǎng)
“人工智能”這個(gè)詞已經(jīng)飛入尋常百姓家,人工智能缺陷檢測(cè)的公司已在中國遍地開花,此次演講數(shù)優(yōu)的韓總解讀了數(shù)優(yōu)在缺陷檢測(cè)領(lǐng)域?yàn)楹问穷I(lǐng)導(dǎo)者的身份,帶來了數(shù)優(yōu)最新的核心技術(shù)分享以及在智能制造產(chǎn)線上的實(shí)際案例,現(xiàn)場(chǎng)座無虛席眾多觀眾蒞臨聽講。
3、SuaKIT新技術(shù)
數(shù)優(yōu)最新升級(jí)的人工智能算法軟件SuaKIT2.2.4,重新定義了AI缺陷檢測(cè)。新技術(shù)的研發(fā)使得缺陷檢測(cè)更精準(zhǔn)、更高效,這次技術(shù)升級(jí)帶來了以下技術(shù)優(yōu)勢(shì):
1、能夠輕松應(yīng)對(duì)頻繁更換檢測(cè)產(chǎn)品的情況,無需重新建立神經(jīng)網(wǎng)絡(luò);
2、單一圖片數(shù)據(jù)也可以輕松建立神經(jīng)網(wǎng)絡(luò);
3、可視化調(diào)試,打開了“黑匣子”,提高檢測(cè)的準(zhǔn)確度;
4、獨(dú)有的自動(dòng)標(biāo)記功能,極大地降低了人工標(biāo)記的時(shí)間;
5、新舊產(chǎn)品更替可以平穩(wěn)過度,零對(duì)接時(shí)間;
6、利用GPU及算法優(yōu)化提高檢測(cè)速度,可以實(shí)現(xiàn)高速產(chǎn)線的實(shí)時(shí)檢測(cè)(最高速度超過10m/s)
繼續(xù)訓(xùn)練
通過繼續(xù)訓(xùn)練縮短建網(wǎng)訓(xùn)練時(shí)間,減少訓(xùn)練圖片數(shù)量;利用之前訓(xùn)練的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò),客戶可以最小化統(tǒng)一行業(yè)中新產(chǎn)品的訓(xùn)練時(shí)間和訓(xùn)練圖像的數(shù)量。
邊界數(shù)據(jù)
向用戶展示介于正常和缺陷之間的邊界數(shù)據(jù),抽取出會(huì)影響到模型性能的圖片,經(jīng)過分析之后可以非常容易地提高模型的性能。
圖像對(duì)比
重點(diǎn)學(xué)習(xí)兩幅圖片之間的差距,即使改變了光學(xué)條件,也能盡量減少費(fèi)用并檢查出缺陷。
多圖像分析
同一產(chǎn)品在不同的光學(xué)條件下拍攝時(shí),通過分析圖片之間的相互關(guān)系以提高檢測(cè)能力,如把圖片打包檢測(cè),處理時(shí)間可以大大縮短。
可視化糾錯(cuò)
可以將深度學(xué)習(xí)算法分析并分類的過程可視化。此功能可以檢測(cè)軟件是否在按照使用者的意圖進(jìn)行訓(xùn)練。
為期三天的展會(huì),我們與業(yè)界資深人員進(jìn)行了熱烈而深入的交流,尋求共贏合作,展會(huì)后也歡迎大家?guī)е鴻z測(cè)樣品或者是圖片來咨詢我們。2020年3月18日至20日,期待與您再次相會(huì)上海新國際展覽中心!
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